一項在《Contemporary Educational Psychology》發表的研究指出學生的測驗焦慮程度與他們在高風險測試中的表現有正面關係，然而對成績水平不同的學生，這關係亦有所不同。
國立臺灣大學的Yao-Ting Sung及其研究團隊運用了來自37間臺灣學校的1,931名國三學生（香港學制：中三）的數據，透過國民中學基本學力測驗（BCTEST）的考評分數來評估學生的學業成績。這測驗決定著臺灣學生入讀高中的水平及繳交的學費，因此是一項高風險的測試。測驗的科目範圍包括國文、英語、數學、社會、科學及寫作。研究亦透過考試壓力量表評估測驗焦慮的程度。
研究結果包括：
- 測驗焦慮與學生高風險測試的表現大體上有正面關係（r= +0.18）
- 成績最好和成績最差的學生測驗焦慮的程度都較低，成績中等的學生測驗焦慮程度則較高。
- 成績較好的學生的測驗焦慮和高風險測試表現呈負面的關係（r = -0.16）；而在成績較差的學生中，二者則有正面的關係（r = +0.22）。
作者表示學生希望在高風險測試取得良好表現的動機，也許能抵消測驗焦慮的負面影響。然而，成績中等學生的高程度的測驗焦慮，也許來自他們對未來就讀高中種類的不確認感，以及他們不知道如何更有效地學習。學校可以透過協助他們選擇適合的學校及探索他們的職業性向及興趣，減低他們的測驗焦慮。